实验分析连续太赫兹反射扫描成像测量效果
材料、高温超导材料、细胞水平的成像领域有广泛的应用。太赫兹技术将是21世纪重大的新兴科学技术领域之一[1]。太赫兹的频率很高、波长很短,具有很高的时域频谱信噪比,且在复杂环境中传输损耗很少,可以穿透实体对其内部进行扫描,是系统分辨率成像测量中的理想技术。
1.2 连续太赫兹反射扫描成像的原理
连续太赫兹反射扫描成像,其主要就是通过应用太赫兹激光器,从而产生连续THz激光,当光波通过斩波器之后,就可以产生一系列太赫兹脉冲。在实际应用中,为了可以消除太赫兹光发散[2],可以采用聚乙烯的透镜准直光路,从而将激光在待测样品上聚焦。将被测的样品放置在由计算机控制编程的线性步进平台中,对其沿x,y方向进行线性扫描,使被测样品能够在光焦处实现二维移动,不仅可以达到较好成像效果,也可以将该样品信息聚焦在THz光探测器之上[3],能够将光波光强转换成为电压值;可将转换后得到的电信号,再经过进行采样、A/D转化后,就可以将得到的数据传输给计算机,并通过相关软件构建出太赫兹图像,通过连续太赫兹反射扫描成像测量,得出测量结果,如图1所示。
2 应用优势分析
可以应用太赫兹电磁辐射采取非侵入式、非电离、非接触手段,检测塑料、枯木、炸药陶瓷等介质材料,其对于任何空隙、分层、夹杂物等影响折射率的缺陷都可以观察到。THz 脉冲的典型脉宽在ps量级,不但可以方便地进行时间分辩的研究,而且通过取样测量技术,能够有效地抑制远红外背景噪声的干扰[4]。THz 脉冲源通常只包含若干个周期的电磁振荡,单个脉冲的频带可以覆盖从GHz 直至几十THz 的范围,许多生物大分子的振动和转动能级,电介质、半导体材料、超导材料、薄膜材料等的声子振动能级落在THz 波段范围[5]。因此THz 时域光谱技术作为探测材料在THz 波段信息的一种有效的手段,非常适合于测量材料吸收光谱,可用于进行定性鉴别的工作。THz 光子的能量低,只有几毫电子伏特,因此不容易破坏被检测物质[6]。由于太赫兹能量很小,不会对物质产生破坏作用,所以与X射线相比更具有优势。THz成像技术也是利用THz射线照射被测物,通过物品的透射或反射获得样品的信息,进而成像[7]。对于实际中的 连续太赫兹反射扫描成像技术,有着THz时域光谱性[8],可以对物质集中进行功能成像,获得物质内部的折射率分布,通过对比实物照片和相应方法重构的THz 透射图像,能清晰地分辨出被测量物体的实际形状。
3 星形分辨率成像测量实验
3.1 实验方案
成像系统需要复制出的物体细节数量,为了获得精确的测量,可以根据分辨率结果,分析连续太赫兹反射扫描成像测量结果。计算机传感器分辨率(S):
[S=FOV分辨率×2 =FOV最小特征的大小×2]
为有效分析实际中连续太赫兹反射扫描成像测量效果,自行设计星形分辨率测试卡,采取连续太赫兹反射扫描成像测量方法与传统传统刀口法,对其分辨率成像进行成像测量,分析其测量结果的准确性。如图2所示为星形分辨率测试卡。
实验室的仪器设备主要有,激光器泵浦的连续THz 激光器,THz 时域光谱系统(包括脉冲THz 波发射器和接收器),THz实时成像系统和扫描成像系统,THz探测器,热释电红外功率计,扫描电镜及Protel,Origin,Matlab等软件。
3.2 测量方法
刀口法测量之中,可以应用刀口仪进行测量,能够将解像率板放在平行的光管前面,然后能够让灯均匀的照射在解像率板上,之后经平行光管的成像作用,就能够将这个像作为本镜头被摄物;在经过汇聚被测镜头后,就能够在该镜头像的方焦平面处,形成清晰影像,那么对于测量者,就可以通过显做镜去观看影像,得出该解镜头解像率。连续太赫兹反射扫描成像测量中,应用P4⁃42热释电探测器进行测量,并结合PCI⁃9812数据采集卡(凌华公司生产)来采集数据,将采集的数据传输到计算机中,重建出扫描图像,并可运用太赫兹成像扫描技术,重建图像数据采集与图像,利用Register_Card函数释放采集卡,对获取的各个点进行扫描,将得到的数据在计算机中进行比较分析,从而可积极构建出采样物品的太赫兹图像。分析电压信号峰值,从而得出被测量样品每个点吸收强度,对各个位置点进行连续太赫兹反射扫描成像得到xyt格式的太赫兹成像数据,测量系统分辨率。
3.3 实验结果分析
在本次实验中,连续太赫兹反射扫描成像测量,连续太赫兹反射扫描成像测量中得出系统分辨率测量结果为1.237 lp/mm,其对应线宽为0.393 mm,与刀口法测量结果一致,且与传统刀口法相比较,可以简化测量过程,准确得出测量结果,所以该方法有应用优势。每个不同层之间引起入射太赫兹脉冲的反射和衰减的传播。传播脉冲和它们的回声(延迟层反射)延迟的差异能够表征厚度特征和内部结构的状态。太赫兹波与扫描样品之中,对于其各个投射位置是相互对应的,并不容易发生混乱像素点的现象。该系统的数据采集模块应用编程驱动采集卡进行工作,根据太赫兹波扫描像素中的每个点,就可以通过光强分析、相位分析以及时间延时等,获取较大信息量的数据,重新构建出采样物品的实际图像。太赫兹测量中,可以观察、分层配置文件显著差异取决于深度检查,因此脉冲太赫兹TDS方法可能是一个非常有效的工具在多层复合材料的无损评价。
4 结 论
综上所述,在实际系统分辨率测量中,采取连续太赫兹反射扫描成像测量方法,可以方便地测量出系统的分辨率,可以简化系统分辨率特性测量过程,得出直观、准确的系统分辨率测量结果,发挥积极应用价值。
参考文献
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